標(biāo)題: ASTM E 2245-2005 用光學(xué)干涉儀測量薄的反射膜剩余張力... [打印本頁] 作者: 兌水 時間: 2009-11-17 16:07 標(biāo)題: ASTM E 2245-2005 用光學(xué)干涉儀測量薄的反射膜剩余張力... E2245-02 Standard Test Method for Residual Strain Measurements of Thin, Reflecting Films Using an Optical Interferometer