標(biāo)題: ASTM E 2244-2005 用光學(xué)干涉儀測(cè)量薄的反射膜的面內(nèi)強(qiáng)... [打印本頁(yè)] 作者: 兌水 時(shí)間: 2009-11-17 16:04 標(biāo)題: ASTM E 2244-2005 用光學(xué)干涉儀測(cè)量薄的反射膜的面內(nèi)強(qiáng)... E2244-02 Standard Test Method for In-Plane Length Measurements of Thin, Reflecting Films Using an Optical Interferometer