標(biāo)題: ASTM E 1854-2005 電子部件的中子誘導(dǎo)取代損害的安全試驗的標(biāo)... [打印本頁] 作者: 兌水 時間: 2009-11-10 08:03 標(biāo)題: ASTM E 1854-2005 電子部件的中子誘導(dǎo)取代損害的安全試驗的標(biāo)... E1854-03 Standard Practice for Ensuring Test Consistency in Neutron-Induced Displacement Damage of Electronic Parts