標(biāo)題: ASTM E 668-2005 電子器件輻射硬化試驗(yàn)中測(cè)量吸收劑量用的熱... [打印本頁(yè)] 作者: 兌水 時(shí)間: 2009-10-31 22:35 標(biāo)題: ASTM E 668-2005 電子器件輻射硬化試驗(yàn)中測(cè)量吸收劑量用的熱... E668-00 Standard Practice for Application of Thermoluminescence-Dosimetry (TLD) Systems for Determining Absorbed Dose in Radiation-Hardness Testing of Electronic Devices