計(jì)量論壇

標(biāo)題: 關(guān)于便攜式表面粗糙度儀的校準(zhǔn)問題 [打印本頁]

作者: 真可樂 時(shí)間: 2009-5-11 12:35
標(biāo)題: 關(guān)于便攜式表面粗糙度儀的校準(zhǔn)問題
本帖最后由真可樂于 2009-5-11 13:02 編輯

有一臺(tái)德國產(chǎn)Pocket Surf的馬爾觸針式便攜式表面粗糙度儀，針尖半徑為10um，測量范圍Ra0.03-6.35um。按照儀器所帶的標(biāo)準(zhǔn)樣件是3.05um，我們公司每年一次的內(nèi)部校準(zhǔn)結(jié)果出來是好的。但是客戶要我們將儀器送到計(jì)量所校準(zhǔn)，結(jié)果相對示值誤差超過15%，好象是在0.074um校準(zhǔn)樣板超標(biāo)，在另外的0.344um和4.33um標(biāo)準(zhǔn)樣板校準(zhǔn)是符合15%的要求。我們的標(biāo)準(zhǔn)樣件也是通過計(jì)量所校過的。難道是我們不能用儀器所帶的標(biāo)準(zhǔn)樣件進(jìn)行校準(zhǔn)？還是計(jì)量所校準(zhǔn)有其它問題？請專家指教！

作者: 趙志華 時(shí)間: 2009-5-11 20:47
應(yīng)該和計(jì)量所檢測方法統(tǒng)一，可以請教一下計(jì)量所

作者: Lishu 時(shí)間: 2009-5-12 14:14
可能是針尖磨損吧，你說的情況就是在大的粗糙值下測量是合格，在測量非常小的粗糙度值時(shí)就不行，你的標(biāo)準(zhǔn) 樣件是3.05um，示值沒問題。0.074um是很小的值，對測針的要求就高，有一點(diǎn)磨損就不行了

作者: cnydyq 時(shí)間: 2009-5-13 13:15
如果確認(rèn)自已檢測的結(jié)果正常,可以和計(jì)量所溝通一下..是不是采用的方法不一致?在確認(rèn)方法都沒問題的情況下,再檢查機(jī)器自身可能的問題...

作者: 深圳漁民 時(shí)間: 2009-5-14 17:23
測針半徑10微米，用來測量Ra0.1以下有點(diǎn)勉為其難，一般測不準(zhǔn)，用你們的儀器測出來的值應(yīng)該偏小。不是誰對錯(cuò)問題，你的儀器不要測量Ra0.1以下就是。

作者: 真可樂 時(shí)間: 2009-5-15 15:19
本帖最后由真可樂于 2009-5-15 15:33 編輯

測針半徑10微米，用來測量Ra0.1以下有點(diǎn)勉為其難，一般測不準(zhǔn)，用你們的儀器測出來的值應(yīng)該偏小。不是誰對錯(cuò)問題，你的儀器不要測量Ra0.1以下就是。 ...
深圳漁民發(fā)表于 2009-5-14 17:23

我們的儀器是Mahr，我這里有二張儀器的說明圖片你看看，校準(zhǔn)的測量點(diǎn)取多少？要用那種規(guī)格的標(biāo)準(zhǔn)樣板？儀器本身自帶的標(biāo)準(zhǔn)樣板規(guī)格是3.05um。就用這個(gè)可以校準(zhǔn)嗎？另外不同規(guī)格的標(biāo)準(zhǔn)樣板所用的取樣長度應(yīng)該是不一樣的。計(jì)量所用的是0.074um、0.344um和4.33um多刻線標(biāo)準(zhǔn)樣板，測量采用的是用同樣的檔位（相同的取樣長度）來測量校準(zhǔn)樣板？我懷疑它們有錯(cuò)？如果要測量Ra0.1um 以下產(chǎn)品應(yīng)該用半徑多少大的測頭？

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作者: jacksilver 時(shí)間: 2009-5-15 22:53

可能是針尖磨損吧，你說的情況就是在大的粗糙值下測量是合格，在測量非常小的粗糙度值時(shí)就不行，你的標(biāo)準(zhǔn) 樣件是3.05um，示值沒問題。0.074um是很小的值，對測針的要求就高，有一點(diǎn)磨損就不行了 ...
Lishu 發(fā)表于 2009-5-12 14:14

同意，粗糙度儀的針尖必須在其測量方向上連續(xù)不斷地觸及被測物體表面上的高點(diǎn)（峰）和低點(diǎn)（谷），這就需要針尖半徑小于一定值（視被測表面加工方法而要求有所不同）才能達(dá)到此目的。對于Ra0.074um的表面，峰和谷之間的間隙非常小，這就需要你的粗糙度儀的針尖至少比這個(gè)間隙還要小才能使針尖觸及谷底。磨損的針尖不能完全觸及谷底就造成了測量結(jié)果偏小。而Ra值相對較大的表面峰谷之間的間隙相對比較大，測量誤差相對就比較小。所以建議不要測量較光滑的表面或者干脆更換測針。

作者: dishui-01 時(shí)間: 2009-5-21 01:46
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作者: Lishu 時(shí)間: 2009-5-21 09:56
測針半徑10um有點(diǎn)大了，一般的測針半徑是5um，有些是2um的

作者: whcjk 時(shí)間: 2009-5-21 16:50
真正校準(zhǔn)用多刻線樣板，他是一組，而生產(chǎn)廠帶的樣板指示一個(gè)規(guī)格，不能全面反映儀器的錯(cuò)狀態(tài)，而且樣板也要每年檢定定值，你的樣板經(jīng)過檢定了么？

作者: 劉三變 時(shí)間: 2009-5-21 22:42
本帖最后由劉三變于 2009-5-21 22:44 編輯

如樓上所說，應(yīng)該用多刻線樣板的，一組包括0.4~3.2（比如說），你有一個(gè)標(biāo)準(zhǔn)件，但是你只檢3.05的粗糙度吧，不止吧，所以說，要用一組來檢定。你檢定自帶標(biāo)準(zhǔn)件是合格（因?yàn)槟阒粰z了3.05），而計(jì)量檢定是不合格的（因?yàn)樗麢z定了一組值），很正常，
只是把樓上的再進(jìn)一步說下，呵呵

作者: 真可樂 時(shí)間: 2009-5-22 08:13

真正校準(zhǔn)用多刻線樣板，他是一組，而生產(chǎn)廠帶的樣板指示一個(gè)規(guī)格，不能全面反映儀器的錯(cuò)狀態(tài)，而且樣板也要每年檢定定值，你的樣板經(jīng)過檢定了么？ ...
whcjk 發(fā)表于 2009-5-21 16:50

儀器自帶的樣板是每年送計(jì)量所校準(zhǔn)過的

作者: 真可樂 時(shí)間: 2009-5-22 10:52
本帖最后由真可樂于 2009-5-22 11:21 編輯

真正校準(zhǔn)用多刻線樣板，他是一組，而生產(chǎn)廠帶的樣板指示一個(gè)規(guī)格，不能全面反映儀器的錯(cuò)狀態(tài)，而且樣板也要每年檢定定值，你的樣板經(jīng)過檢定了么？ ...
whcjk 發(fā)表于 2009-5-21 16:50

根據(jù)校準(zhǔn)規(guī)范對相對示值誤差的要求，

如果儀器的相對示值誤差±15%的話，測量頭的半徑是10um的。應(yīng)該選用那些規(guī)格的多刻線表面粗糙度樣板來校準(zhǔn)？上次送上級(jí)計(jì)量所用的是0.074um、0.344um和4.33um多刻線標(biāo)準(zhǔn)樣板，不知道是否有問題？

作者: zhx730621 時(shí)間: 2009-5-23 14:54
測量頭的半徑大小直接影響測量結(jié)果

作者: Lishu 時(shí)間: 2009-5-31 17:28
本帖最后由 Lishu 于 2009-5-31 17:30 編輯

13# 真可樂
這個(gè)問題建議聯(lián)系下校準(zhǔn)規(guī)范的制定單位和相關(guān)起草人咨詢，有答案在這里分享一下，我也想知道結(jié)果。

作者: slammgg 時(shí)間: 2009-6-21 11:42
計(jì)量所！校準(zhǔn)方法是沒錯(cuò)的！

作者: 羅志權(quán) 時(shí)間: 2009-6-22 22:41
同一臺(tái)儀器在不同的測量點(diǎn)其測量精度是不一樣的，樓主用儀器自帶的標(biāo)準(zhǔn)樣塊在3.05um處內(nèi)校合格并不意味著在0.074um處儀器也合格（哪怕沒有測頭因素的影響），這也是校準(zhǔn)標(biāo)準(zhǔn)樣塊要成的原因。其他還有自帶樣塊均勻性、測量不確定度等方面的影響。
探討：lzq1866@163.com

作者: 東莞三本 時(shí)間: 2009-9-9 16:49
震動(dòng)考慮了嗎？測量這么小的范圍，機(jī)器也那么的小，。周圍的環(huán)境怎么樣的？震動(dòng)對測量也有影響哦！~

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